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Leica/Bal-Tec 离子减薄仪
仪器简介:全计算机控制的多功能离子减薄系统,有高度的灵活性.技术参数:减薄角度可调由0º至90º 主机内置2级泵,确保高真空主要特点:减薄角度可调由0º至90º 一体化设计
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Leica/Bal-Tec 离子减薄仪
仪器简介: 一体化系统”描述 这种RES101型的离子减薄设备是一个紧凑的台式单元,所有部件都装配在一起,而且由于它高度的灵活性,它方便地适用于为透射电镜、扫描电镜、光学
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多功能离子减薄仪
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Gentle Mill离子减薄仪/离子精修仪
Gentle Mill 离子精修仪专为最终抛光、精修和改善 FIB 处理后的样品而设计。非常适合要求样品无加工痕迹、表面几乎没有任何损坏的 XTEM、HRTEM 或 STEM 的用户。
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Leica EM RES102 多功能离子减薄仪徕卡 应用于橡胶
徕卡 多功能离子减薄仪Leica EM RES102可用于测定粉体类,适用于粉体类样品离子束切割的扫描电镜制样项目。并且参考多项行业标准圆派科学仪器。可应用于纺织/印染行业领域。 粉体类样品离子
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徕卡 多功能离子减薄仪Leica EM RES102 应用于涂料
徕卡 多功能离子减薄仪Leica EM RES102可用于测定小零件的微纳镀层,适用于小零件的微纳镀层截面CP制备项目。并且参考多项行业标准圆派科学。可应用于纳米材料行业领域。 微小零件的微纳镀层
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Leica EM RES102徕卡 多功能离子减薄仪 可检测粉体类
样技巧 Leica EM RES102 多功能离子减薄仪产品规格下载性能与优点 适用于TEM,SEM以及LM的样品制备 独特的解决方案Leica EM RES102 是一款独特的离子束研磨设备
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徕卡 多功能离子减薄仪Leica EM RES102 应用于航空/航天
徕卡 多功能离子减薄仪Leica EM RES102用于测定小零件的微纳镀层,符合行业标准圆派科学。适用小零件的微纳镀层截面CP制备项目。 微小零件的微纳镀层截面CP制备方法分享(精研一体机,离子
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多功能离子减薄仪徕卡Leica EM RES102 应用于电子/半导体
徕卡 多功能离子减薄仪Leica EM RES102参考多项行业标准圆派科学。完成小零件的微纳镀层的检测。可以用在生物质材料行业领域中的小零件的微纳镀层截面CP制备项目。 微小零件的微纳镀层截面CP
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多功能离子减薄仪Leica EM RES102徕卡 应用于汽车/铁路/船舶
徕卡 多功能离子减薄仪Leica EM RES102适用于小零件的微纳镀层截面CP制备项目,参考多项行业标准圆派科学。可以检测小零件的微纳镀层等样品。可应用于涂料行业领域。 微小零件的微纳镀层截面
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